HB01300 - SEMI HB13 - Specification of Susceptors for HB-LED MOCVD Equipment Communication Interface StdPbc-712 本文書は情報を作成するための仕様あるいは電子的に表現するための仕様ではなく，情報を交換するための仕様を作成することを意図している。半導体装置製造情報タグ付けは文書を電子的に交換し，情報の内容を検索し，情報の交換を照合するのに必要なマークアップを定義する。

本文書は情報を作成するための仕様あるいは電子的に表現するための仕様ではなく，情報を交換するための仕様を作成することを意図している。半導体装置製造情報タグ付けは文書を電子的に交換し，情報の内容を検索し，情報の交換を照合するのに必要なマークアップを定義する。

Joint report from SEMI and TechSearch International examining the global semiconductor packaging materials market size and 5-year forecast to 2024

Subordinate Standards:

SEMI MF1630 –– Test Method for Low Temperature FTIR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities

本文書の目的は，ガス供給システムに組み込むことを検討しているマスフローコントローラ（MFC）の試験方法を規定し，MFCの指示流量と実流量への周囲温度およびガス温度の影響を定量化することである。

HB01300 - SEMI HB13 - Specification of Susceptors for HB-LED MOCVD Equipment Communication Interface StdPbc-712 本文書は情報を作成するための仕様あるいは電子的に表現するための仕様ではなく，情報を交換するための仕様を作成することを意図している。半導体装置製造情報タグ付けは文書を電子的に交換し，情報の内容を検索し，情報の交換を照合するのに必要なマークアップを定義する。The purpose of this Standard is to provide a supplement for the equipment automation interface for communication and control of process, automation and metrology equipment used in HB LED manufacturing. It intends to define the data collection for tracking wafer activity when using a susceptor or a wafer carrier. This Standard serves as a reference for both HB LED manufacturers and equipment suppliers. The document details properties and functions of