G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染物の測定のための標準測定法（提案） Revision:SEMI G52-90 (Reapproved 1104) - Superseded all documents cited shall be

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orgで入手可能となる。初版は1995年発行。前版は2005年11月発行。

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製品やレチクルの保護あるいはEMI制御について

G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染物の測定のための標準測定法（提案） Revision:SEMI G52-90 (Reapproved 1104) - Superseded all documents cited shall beGlobal Assembly and Packaging CommitteeJapanese Packaging Committee2004723Japanese Regional Standards Committee20049www. semi. org2004111990 Na+NH4+K+Cl NO3 Br SO42 PO43 Referenced SEMI Standards None.